Перейти к основному содержанию

Поиск по словарю

Язык содержимого

Информация о концепции

Предпочитаемый термин

Focused ion beam  

Определение

  • An instrument that combines the use of a focused beam of gallium ions to etch or coat a sample with a scanning electron microscope to image the sample. (TIB, NCI Thesaurus OBO Edition)

Концепция более широкого понятия

URI

https://purls.helmholtz-metadaten.de/evoks/sdv/focusIonBeam

Скачать концепцию